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超聲相控陣探頭是一種先進的無損檢測工具，能夠通過電子控制實現多種掃描模式，從而適應不同的檢測需求。以下是超聲相控陣探頭能夠實現的主要掃描模式：
1. 扇形掃描（S掃描）
扇形掃描是超聲相控陣探頭最常用的掃描模式之一。在這種模式下，探頭通過改變各陣元的激發延遲，使聲束在設定的深度上按一定角度范圍進行偏轉，形成扇形掃查區域。這種掃描方式適用于檢測焊縫、管道等結構中的缺陷，能夠快速覆蓋較大區域，并且可以靈活調整掃描角度。
2. 線性掃描（電子掃描）
線性掃描是另一種常見的掃描模式。探頭的陣元被分成若干小組，通過延遲器依次激發各小組陣元，使聲束沿探頭長度方向進行掃查。這種模式適用于檢測工件的表面或近表面缺陷，能夠提供高分辨率的成像結果。
3. 動態深度掃描（動態深度聚焦）
動態深度掃描允許探頭在不同深度上進行聚焦，從而實現對工件內部缺陷的全面檢測。這種模式分為發射動態深度聚焦和接收動態深度聚焦。發射動態深度聚焦通過改變激發延遲使聲束焦點在深度方向上移動；接收動態深度聚焦則在接收信號時對不同深度的回波進行重新聚焦。
4. 光柵掃描（X-Y掃描）
光柵掃描模式結合了機械移動和電子掃描。探頭在被測樣件上沿一個軸進行物理移動，同時在另一個軸的方向上進行電子掃查。這種模式適用于復雜形狀工件的全面檢測，能夠提供詳細的二維或三維成像。
5. 靜態掃描
靜態掃描模式下，探頭固定在一個位置，通過改變聲束的偏轉角度和聚焦深度，對目標區域進行檢測。這種模式適用于對特定區域進行詳細檢測，尤其是在需要高精度定位缺陷時。
6. B掃描顯示
B掃描顯示的是通過被測樣件的一個垂直切片的橫截面輪廓。這種模式要求探頭沿被測樣件的選定軸進行機械或電子掃描，能夠直觀地顯示缺陷相對于其線性位置的深度。
7. C掃描顯示
C掃描顯示的是工件表面或某一特定深度的二維平面視圖。這種模式通過在工件表面進行光柵掃描，生成缺陷的平面分布圖，適用于檢測大面積區域。
8. D掃描顯示
D掃描顯示的是工件內部某一特定深度的三維視圖。這種模式結合了動態深度掃描和光柵掃描，能夠提供缺陷的三維位置和尺寸信息。
9. S掃描顯示
S掃描顯示的是從一系列A掃描中導出的二維橫截面視圖，這些A掃描已相對于時間延遲和折射角進行了繪制。這種模式適用于生成近似錐形的橫截面圖像，能夠直觀地顯示缺陷的位置和形狀。
10. TFM掃描（全聚焦方法）
TFM掃描是一種先進的成像技術，通過計算所有可能的聚焦法則，生成工件內部的高分辨率三維圖像。這種模式適用于復雜幾何形狀工件的檢測，能夠提供更準確的缺陷定位和尺寸測量。
通過這些多樣化的掃描模式，超聲相控陣探頭能夠滿足不同工業領域和檢測場景的需求，提供高效、準確的無損檢測解決方案。